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    X射线光电子能谱仪
    2018年04月25日 08:27 atc 点击:

X射线光电子能谱仪

仪器型号:AXIS SUPRA

生产厂家:日本岛津-Kratos公司

仪器介绍:X射线光电子能谱仪可以提供有关固体表面和界面的化学信息。可以分析除氢、氦以外的所有元素,包括元素种类及价态。并可以提供测定元素相对含量的半定量分析。广泛应用于研究聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料。结合其它表征技术,可以对腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程进行研究。

主要附件:紫外光电子能谱仪UPS、俄歇电子能谱仪AES、离子散射谱ISS、双阳极Al/Mg靶、多模式团簇离子枪、进样分析室冷热台等。

性能指标:空间分辨率:优3μm;能量分辨率:0.48eV/(Ag 3d5/2),0.68eV/(C 1s)(PET上O-C=O的C 1s)最小分析区域(收谱)<10 μm灵敏度(ag 3d5/2):大面积11,800kcps (1.3ev )空间分辨率(快速平行成像):小于3μm空间分辨率(扫描成像):15μm和27μm。

主要应用:主要用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析,表面元素的化学成像及深度剖析。可用于腐蚀、摩擦、浸润、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面过程的研究。

送样须知:

1.粉末样品最好不低于50mg(多余样品不会被污染,可以回收);

2.片状样品请标明测试面,常规测试建议样品大小裁至≤5*5mm,如若要进行深度分析需适当增大面积,样品厚度建议不要超过18mm;其他特殊规格大小送样前咨询负责老师进行确认;

3.分析结果中一定会包含全谱扫描;窄谱分析会包含C、O两个元素,供委托人参考(荷电情况及校正);

4.所有元素分析原则上仅提供原始数据,不提供分峰拟合结果;

5.如果样品有易磁化,易变性(如被氧化,吸附等)等情况应说明清楚;

6.含磁性、放射性样品不能测试。

存放地点:南海海洋资源国家重点实验室118

联系人:王桂振

联系电话:13700408893

收费标准

 


校内

校外

CMA

说明

常规XPS收费

350元/样品

700元/样品

1000/样品

XPS谱图测试(包括宽扫和窄扫:C1s加上其它4个)每增加窄扫一个元素,校内加收50元,校外加收100元

使用Ar离子轰击清洗样品表面+常规谱图测试

350元*(1+0.8X采集谱图次数)+轰击费用(100元/次)

700元*(1+0.8X采集谱图次数)+轰击费用(200元/次)


每次刻蚀时间为1-3分钟,最多刻蚀两次

使用Ar离子轰击来减薄样品表面+常规谱图测试

350元*(1+0.8X采集谱图次数)+轰击费用(150元/次)

700元*(1+0.8X采集谱图次数)+轰击费用(300元/次)


总减薄厚度不超过40nm,每次的轰击时间不超过5分钟,每个样品最多可以做3次轰击

XPS成像(选区和扫描)

350元/小时

700元/小时



XPS深度剖析测试(Ar离子刻蚀+元素窄扫)

每个样品基本费3000元(3小时),每增加1小时加收900元

每个样品基本费5500元(3小时),每增加1小时加收1500元

每个样品基本费7200元(3小时),每增加1小时,加收2000

校内:Ta2O5刻蚀速率测定:一次2000元;

AFM测量溅射坑深度50元/样品

校外:Ta2O5刻蚀速率测定:一次3200元;

AFM测量溅射坑深度200元/样品

CTA测试:Ta2O5刻蚀速率测定:一次2000元;

AFM测量溅射坑深度400/样品

UPS(价带谱或功函数)

400元/样品

800元/样品



 

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